физические методы контроля качества материалов

Министерство образования Российской Федерации НОВОСИБИРСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ 620.179.1 А.А. Батаев, В.А. Батаев, Л.И. Тушинский, С.А. Которов, Д.Е. Буторин, Д.А. Суханов, З.Б. Батаева, А.И. Смирнов, А.В. Плохов ФИЗИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА МАТЕРИАЛОВ Новосибирск 2000 УДК 620.179.1 Физические методы контроля качества материалов: Учеб. пособие/ Под. ред. А.А.Батаева - Новосибирск: Изд-во НГТУ, 2000. – ХХХ с. Авторы: Батаев А.А, Батаев В.А., Тушинский Л.И., Которов С.А., Буторин Д.Е., Суханов Д.А., Батаева З.Б., Смирнов А.И., Плохов А.В. В пособии рассматриваются методы физического контроля материалов: оптическая, электронная (просвечивающая и растровая), туннельная микроскопия; методы рентгеновского, микрорентгеноспектрального, спектрального анализа; методы магнитного и акустического контроля; оптико-телевизионные методы исследований. Пособие рассчитано на студентов, обучающихся по направлению 551600 «Материаловедение и технология новых материалов» и студентов, обучающихся по специальности 120800 «Материаловедение в машиностроении». Илл. 82, табл. ХХХ, список лит. ХХХ. Рецензенты: А.О.Токарев, к.т.н., доцент. В.Г.Буров, к.т.н., доцент. Работа подготовлена на кафедре материаловедения в машиностроении ©Новосибирский государственный технический университет, 2000 г. ОГЛАВЛЕНИЕ Введение 1. Классификация дефектов структуры материалов 1.1. Структура и ее связь со свойствами материала 1.2. Классификация реальных структур материалов 1.3. Генезис и морфология структуры материалов 1.4. Современные представления об эволюции структур и моделей пластической деформации при внешнем нагружении 1.5. Список литературы 2. Оптическая металлография 2.1. Разрешающая способность и увеличение металлографического микроскопа 2.2. Дефекты изображения при работе на металлографическом микроскопе 2.3. Объективы и окуляры для металлографических микроскопов 2.4. Методы микроскопического исследования 2.5. Основные типы металлографических микроскопов 2.6. Список литературы 3. Трансмиссионная электронная микроскопия 3.1. Взаимодействие электронов с веществом 3.2. устройство микроскопа 3.3. Увеличение и разрешение просвечивающих электронных микроскопов 3.4. Контраст и формирование изображения 3.5. Рассеяние электронов веществом. Образование дифракционной картины в электронном микроскопе 3.6. Список литературы 4. Растровая электронная микроскопия 4.1. введение 4.2. Подготовка образцов к исследованию на растровом электронном микроскопе 4.3. Особенности растрового электронного микроскопа 4.4. Список литературы 5. Сканирующий туннельный микроскоп 5.1. Принцип действия и устройство микроскопа 5.2. Список литературы 6. Оптико-телевизионные методы исследования и диагностики материалов на мезоуровне 6.1. Измерительные системы, контролирующие топологию поверхности материала 6.2. Оптико-телевизионные системы для измерения микрорельефа поверхности 6.3. Список литературы 7. Рентгеновский метод контроля материалов 7.1. Основные сведения о рентгеновских лучах 7.1.1. Введение 7.1.2. Возникновение и природа рентгеновских лучей 7.1.3. Сплошной спектр рентгеновского излучения 7.1.4. Характеристическое рентгеновское излучение 7.1.5. Поглощение рентгеновского излучения.