конспект лекций. радиационная дефектоскопия промышленных изделий

А.П. Семенов .. Конспект лекций Радиационная дефектоскопия промышленных Москва ..., изделии 2000 СОДЕРЖАНИЕ Введение ,.. .. ... Физнко-техннческне ОСНОВЫ раднационныв методов контреля 1. Прнрода ионнзнрующих излучений ' " \ . \. Строение атома. Модель атома Резерфорда-Бора \ .2. Строение атомного ядра. Изотопы 1.3. Естественная радиоаlA Bыx h'v=A I вых m·f)2 +h ·v+-2 и 14 Величина, характеризующая относительное уменьшение потока рентге­ новского или у- излучения на единице пути в веществе за счет процесса ком­ птоновского рассеяния, называется линейным коэффициентом комптоновского рассеяния а [CM- 1]. Комптоновское рассеяние является основным механизмом взаимодейст­ вия квантов излучения с веществом в широком энергетическом ин тервале .. (РЬ ~ 0,6 ...5 МэБ ;· А1 ~ 0,05 ... 15 МэБ) . . 2.4.3. Эффект образования нар При жестком рентгеновском или у- излучении (IJ·У >1 ,02 МэВ) м ожет возникнуть новый вид взаимодействия квантов излучения с веществом, а имен­ но: вблизи атомного ядра в сильном электрическом поле происходит ио гп още­ ние кванта с образованием пары заряженных частиц позитрон - электрон . Условие возникновения эффекта h·v образования пар: е п-»:> е 1,02 МэН + Впоследствии электрон те ря ет свою э н е р ги ю в процессе ионизации , а позитрон существует короткое вр емя, аннигилируя с одним из электронов среды, что сопровождается излучением двух квантов с энергией 0,51 МэБ. Относительное уменьшение интенсивности потока рентгеновского или у- излучения за счет эффекта образования пар на единице пути в веществе ха - Эcп:hе I(/П . I ··2 рактеризуется линейным коэффициентом~разования пар аз [см- ] (re~Z ) . Применяемое . : 5 3 дефектоскопии излучение имеет энергию не более МэБ. Ослабление излучения с подобной энергией за счет эффекта обра зова­ ния пар мало по сравнению с ослаблением, обусловленным фотоэффектом и Комптон-эффектом . 15 2.5. ОСНОВНОЙ закон радиационной дефектоскопии J=J ·е-р · д u , где Р- линейный коэффициент ослабления излучения за счет фотоэффекта, Комптон - эффекта и эффекта образования Jo - пар (Jl = r + (J" + ~); первоначапьная интенсивность излучения, /ТQАающего на по­ глотитель; JО - интенсивность излучения, прошедшего через поглотитель ; толщина материала. Коэффициент Р характеризует ДОJlЮ от иервоначальной ИlIТСIIСИВlЮСТII излучения, поглощенную в поглотителе толщиной в 1 см за счет трех вышеспи­ санных эффектов. Другими словами , коэффициент Р показывает вероятность поглощения кванта излучения в поглотителе толщиной в 1 см за счет всех трех эффектов. 2.6. ...~ Диаграмма Эванса Диаграмма Эванса представляет собой вероятности поглощения рентгеновского и у-излучения веществом за счет фотоэффекта, Комптон-эффекта и эффекта образования па