E-Book Overview
Екатеринбург: Уральский государственный университет им. А. М. Горького, ИОНЦ "Нанотехнологии и перспективные материалы" [Электронный ресурс], 2008. — 125 с.
Оптические методы широко используются в исследованиях различных свойств материалов, поскольку от этих свойств могут зависеть характеристики фиксируемого излучения. Преимущества оптических методов состоят в возможности получать информацию об объекте, не прибегая к физическому контакту с ним, как правило, оптические методы позволяют наблюдать за протеканием процессов в материале в режиме реального времени. Использование оптического метода подразумевает: во-первых, установление связи между параметрами излучения и свойствами материала; во-вторых, использование оптических устройств для измерения параметров излучения; в-третьих, восстановление свойств материала по параметрам излучения от него.Введение Электромагнитные волны. Способы описания <em>Свойства электромагнитных волн Энергия плоской волны Поляризация Параметры Стокса Методы измерения поляризации волны Эллипсометрия <em>Основные соотношения, используемые в эллипсометрии Вывод основных соотношений между параметрами эллипсометрии и оптическими свойствами пленки на подложке Пример расчета зависимостей параметров эллипсометрии от величины комплексного показателя преломления пленки на подложке Инструменты эллипсометрии Модели эллипсометриии Планарные матмодели ОИ в традиционной эллипсометрии Свойства решений ОУЭ для простой оптической модели ОИ Развитие нетрадиционных методов прикладной эллипсометрии НПВО - эллипсометрия Спекл Uфэу - эллипсометрия Трансформация инвариантов Френеля-Брюстера для модели однородного слоя Эллипсометрия скрытых азимутальных девиаций Релаксационная Uфэу – эллипсометрия Компьютерное моделирование свойств решений прямой задачи эллипсометрии для однородного слоя Типовые решения прямой задачи ОУЭ для однородного слоя Контрольные примеры решений ОУЭ для однослойной модели Свойства решений обратной задачи эллипсометрии для слоя Обратная оптическая задача <em>Сверхразрешение в фазовых изображениях Модель фазового объекта Сингулярности и критерий разрешения в фазовых изображениях Сингулярности и сверхразрешение в фазовых изображениях Заключение по теме «Сверхразрешение» Список литературы
E-Book Content
ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО ПО ОБРАЗОВАНИЮ Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования «Уральский государственный университет им. А.М. Горького» ИОНЦ «Нанотехнологии и перспективные материалы» Физический факультет Кафедра общей и молекулярной физики Инновационная образовательная программа «Опережающая подготовка по прорывным направлениям развития науки, техники и гражданского общества на основе формирования инновационнообразовательного пространства классического университета в партнерстве с академической наукой, бизнесом, органами власти с использованием мирового опыта в области качества образования и образовательных технологий» V. Учебное пособие по дисциплине «Оптические методы исследования в материаловедении»
Руководитель ИОНЦ «Нанотехнологии и перспективные материалы» ИОП В.А.ЧЕРЕПАНОВ 15 ноября 2008 г.
Екатеринбург 2008
ВВЕДЕНИЕ Оптические методы широко используются в исследованиях различных свойств материалов, поскольку от этих свойств могут зависеть характеристики фиксируемого излучения. Преимущества оптических методов состоят в возможности получать информацию об объекте, не прибегая к физическому контакту с ним, как правило, оптические методы позволяют наблюдать за протеканием
процессов
в
материале
в
режиме
реального
времени.
Использование оптического метода подразумевает: во-первых, установление связи между параметрами излучен