дефекты в α-fe индуцированные мощным ионным пучком (мип) [DOC]
E-Book Overview
Литературный перевод. Defects in α-Fe induced by intense-pulsed ion beam (IPIB). Elseiver. Nuclear Instruments and Metods in Physics Research B 171 (2000) c. 481-486
Исследование точечных и линейных дефектов образованных в результате обработки железа мощным ионным пучком проводилось с использованием Резерфордовского обратного рассеяния (RBS), вторичной ионной масс-спектрометрии (SIMS), электронной Оже-спектроскопии (AES), просвечивающей электронной микроскопии (ТЕМ) и сканирующей микроскопии. Показана близкая корреляция между средней скалярной плотностью дислокаций и микротвердостью вблизи поверхности и на больших глубинах. Сравнительный анализ структурно-фазовых разрушений после воздействия МИП и мощных импульсных электронных пучков вызывает интерес в части понимания различных модифицированных свойств материалов для применения таких технологий в производстве.
E-Book Information